카메라모듈, 반도체 분석 프로그램 (EDA)가 지원하는 데이터 분석용 차트 소개

 

EDA 프로그램이 지원하는 차트를 소개하기 위해 만든 페이지 입니다.

[ 하나의 CSV 파일 (테스트 결과 파일) 내의 2개 파라미터에 적용되는 차트 ]

1. XY축 차트 - 하나의 CSV 파일 내의 2개의 파라미터의 결과를 확인하는 차트

 

 

[ 하나의 CSV 파일 내의 여러 파라미터를 동시에 분석하는 차트 ]

1. Box plot - 하나의 파일 내의 여러 파라미터를 동시에 지원

 

 

2. 카테고리 별 Scatter chart - 하나의 CSV 파일 내의 여러 파라미터 지원

 

 

3. 시간배열 차트 - 하나의 CSV 파일 내의 여러 파라미터 지원

 

 

4. 최소, 최대, 평균값의 라인 차트 - 하나의 CSV 파일 내의 여러 파라미터 지원

 

 

5. 개별 데이터별 라인 차트 - 하나의 CSV 파일 내의 여러 파라미터 지원

 

 

6. 여러 필드에 대한 레이더 차트 - 하나의 파일 내의 여러 파라미터 지원

 

 

7. 표면 차트 (평균데이터) - 하나의 CSV 파일 내의 N x N 파라미터 지원

 

 

8. Contour 차트 (평균값) - 하나의 CSV 파일 내에 N x N 파라미터 지원

 

 

[ 여러 파일 내의 한가지 파라미터를 동시에 지원하는 차트 ] 

1. 박스 플롯 - 여러 CSV 파일 내의 한가지 파라미터 지원

 

 

2. 카테고리별 Scatter 차트 - 여러 CSV 파일 내의 한가지 파일 지원

 

3. 여러 CSV 파일 내에 XY축 (2개 파라미터) 차트

 

 

전자제품 테스트 데이터를 분석하는 프로그램의 개발을 원하시면 아래의 연락처로 문의주세요~ 

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